ディスクボトルネックを検出するディスクビジー率

ディスクのボトルネックを検出するディスクビジー率
実際、ストレージのテスト使用を行える場合、
インフラ技術者がストレージのボトルネックを検出する方法は、ディスクビジー率が最も楽でわかり易い値です。
 
非常に単純な考え方ですが、パフォーマンス測定の結果「応答時間×秒間I/O数」が1秒に近い場合は、「非常に高いデバイス・ビジー率」としてとららえることが可能です。
応答時間×秒間I/O数が1秒を超えるということは、計算上ストレージに余裕が無い最大限に動作しているパツパツな状態といえるからです。
(逆を言うと、IOPS=1/応答時間という計算が成り立つ状態。1ミリ秒の反応速度で計算すると場合、1000IOPS以上はストレージ性能は必要ということになります)
また、OS管理上のディスクキュー(ディスク待ち行列キュー)にキューがたまっているかどうかでも、非常に高いディスクビジー率かどうかが判断できます。
 
ストレージ装置の性能限界値はそれぞれメーカーや構成によって異なると思います。
そうした場合、使用率(もしくは利用率)で使用状況をとらえる方法があります。
使用率とは、性能限界値を100%とした場合の相対的な割合になります。 
一般的には、70%程度の使用率であれば、処理待ちによる応答時間の遅延は長くないとされています。
 
使用率の算出方法も、ベンダーやツールにより異なる可能性があります。
代表的な算出方法としては、ベンダーのベンチマークによる性能限界値に対する割合で算出する方法と、コンポーネントが使用中かどうかを定期的に確認してその統計値により算出する方法(サンプリング手法)があります。
測定するツールによって異なります。
 
 
ディスクビジーになるストレージシステム内のコンポーネントのネックは、ストレージコントローラやRAID(RAIDを構成するディスク)にあることが多いです。
・ストレージコントローラのネックの場合は、ストレージシステム全体(他のRAIDグループにも)影響します。
・RAIDアレイのネックの場合は、そのRAIDアレイに属するLUNすべてに影響します。
 
 
 

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